专利详情

专利名称	一种检测微通道板暗计数的装置
申请号	CN201320843427.9	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN203799020U	公开（授权）日	2014.08.27
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	刘永安;盛立志;刘哲;李林森;赵宝升
主分类号	G01T1/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01T1/00(2006.01)I
专利有效期	一种检测微通道板暗计数的装置至一种检测微通道板暗计数的装置	法律状态
说明书摘要	本实用新型提出了一种检测微通道板暗计数的装置，包括用于测试MCP性能的真空腔室、电极引线、光子计数成像探测器、电子读出电路、数据采集与处理单元以及电源；光子计数成像探测器设置在真空腔室内；电子读出电路、数据采集与处理单元依次与真空腔室连接；电源与电极引线、光子计数成像探测器连接。本实用新型检测微通道板暗计数的装置，利用“光子计数成像技术”能够同时得到MCP暗计数的数量、位置分布和脉冲高度分布（PHD）等信息，为光子计数成像探测、粒子探测和微光成像等应用提供筛选低噪声MCP的技术。