专利详情

专利名称	基于契伦科夫效应的内窥平面成像系统和方法
申请号	CN201410302205.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104027064A	公开（授权）日	2014.09.10
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	胡振华;田捷;宋天明;王坤
主分类号	A61B1/05(2006.01)I	IPC主分类号	A61B1/05(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I
专利有效期	基于契伦科夫效应的内窥平面成像系统和方法至基于契伦科夫效应的内窥平面成像系统和方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于契伦科夫效应的内窥式平面成像系统和方法，所述系统包括：支撑装置，用于支撑待成像对象；契伦科夫荧光探测装置，用于采集待成像对象的平面光学图像和契伦科夫荧光图像；暗箱，用于容纳契伦科夫荧光探测装置和支撑装置，以阻断高能射线和可见光；计算机，用于对于契伦科夫荧光探测装置中的光学成像器件的光学成像参数进行调节，并对于接收到的光学图像和契伦科夫荧光图像进行融合，得到契伦科夫配准图像。本发明可以有效地解决契伦科夫光信号较弱，穿透深度较浅等缺点，且大幅降低了设备建造与维护成本，降低了核医学成像研究的门槛，拓展了光学分子影像探针可供选择的空间，延伸了光学分子影像研究与应用的范围。