一种光电跟踪性能检测方法
- 申请号：CN201410258920.3
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号：CN104034511A
- 公开(公开)日：2014.09.10
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种光电跟踪性能检测方法 | ||
| 申请号 | CN201410258920.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN104034511A | 公开（授权）日 | 2014.09.10 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 贾建军;白帅;石小丽;王娟娟;杨明冬;秦文 |
| 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种光电跟踪性能检测方法 至一种光电跟踪性能检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于可便携检测装置的光电跟踪性能检测方法。它对待测设备的跟踪范围、跟踪速度和跟踪精度等指标进行测试。本发明为光电跟踪系统提供了大范围、机动性强的动态跟踪靶标，同时可模拟光轴的微振动干扰，且测试系统结构简单，易于搭建和携带，可在不同场合下灵活使用。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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05
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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