专利详情

专利名称	可校正谱线弯曲的成像光谱仪系统及其校正方法
申请号	CN201410187178.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104034419A	公开（授权）日	2014.09.10
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	巩岩;陈洪福;刘壮
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I;G01J3/12(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I
专利有效期	可校正谱线弯曲的成像光谱仪系统及其校正方法至可校正谱线弯曲的成像光谱仪系统及其校正方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	可校正谱线弯曲的光谱仪系统及其校正方法，属于光谱测量和遥感技术领域，为了解决现有技术的问题，可校正谱线弯曲的棱镜-光栅型成像光谱仪系统，由前置物镜、狭缝、准直物镜、分光元件、成像物镜、滤波片以及CCD组成；其中分光元件由棱镜和透射光栅组成，透射光栅和棱镜组合是利用透射光栅与棱镜产生相反的谱线弯曲进行补偿，对中心波长校正谱线弯曲；同时，透射光栅的入、出射角满足Bragg条件；分光器件的入射光轴和出射光轴A-A’不在同一条直线上，其偏转角和偏心量由中心波长的偏转角决定；成像光谱仪系统谱线弯曲校正的方法，首先分光元件的设计；然后利用准直物镜和成像物镜产生的畸变以及像面倾斜进行补偿校正剩余谱线弯曲。