
双视场多普勒外差干涉仪
- 申请号:CN201410216341.2
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN104034421A
- 公开(公开)日:2014.09.10
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 双视场多普勒外差干涉仪 | ||
申请号 | CN201410216341.2 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN104034421A | 公开(授权)日 | 2014.09.10 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 费小云;冯玉涛;白清兰;孙剑;李勇 |
主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I |
专利有效期 | 双视场多普勒外差干涉仪 至双视场多普勒外差干涉仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 |
本发明提供了一种双视场多普勒外差干涉仪,以实现同时探测两相互垂直方位角目标光谱的Doppler频移信息。该双视场多普勒外差干涉仪,包括面向垂直视场设置的两个平面反射镜,两个平面反射镜上下错开,将光瞳分成上下两半区域,两个平面反射镜的水平投影的两直线夹角为45°;在两个平面反射镜的后方沿光路依次设置有一个 |
交易流程
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选取所需
专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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过户资料
平台保障
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