专利详情

专利名称	一种次临界系统次临界度的测量方法
申请号	CN201410281628.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104036834A	公开（授权）日	2014.09.10
申请（专利权）人	中国科学院合肥物质科学研究院	发明（设计）人	杨英坤;刘超;常博;曾勤;吴宜灿
主分类号	G21C17/00(2006.01)I	IPC主分类号	G21C17/00(2006.01)I
专利有效期	一种次临界系统次临界度的测量方法至一种次临界系统次临界度的测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种次临界系统次临界度的测量方法。其包括：将至少两个相同的探测器均匀布置在受外源影响相同的对称位置；获取至少两个相同的探测器的探测器截面Σ_det空间及能量分布；改变系统次临界度，测量预设组不同状态的“真实”次临界度；根据至少两个相同的探测器的探测器截面Σ_det空间及能量分布,测量预设组不同状态的“测量”次临界度；根据预设组不同状态的“真实”次临界度与“测量”次临界度，得到“真实”与“测量”次临界度的对应关系；运行中，对任一当前状态，根据当前状态的“测量”次临界度和“真实”与“测量”次临界度的对应关系，获取当前的“真实”次临界度。本发明的技术方案对通量的畸变更不敏感，增强了测量的准确性。