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一种制备掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜的方法

  • 申请号:CN201310081938.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 公开(公开)号:CN104046984A
  • 公开(公开)日:2014.09.17
  • 法律状态:实质审查的生效
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专利详情

专利名称 一种制备掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜的方法
申请号 CN201310081938.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN104046984A 公开(授权)日 2014.09.17
申请(专利权)人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明(设计)人 刘光辉;杨华;刘茜;魏钦华;周真真;卢琦
主分类号 C23C26/00(2006.01)I IPC主分类号 C23C26/00(2006.01)I;G21K4/00(2006.01)I
专利有效期 一种制备掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜的方法 至一种制备掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种制备掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜的方法,其包括如下步骤:a)对单晶硅片进行表面清洁和去氧化层预处理;b)采用化学刻蚀方法在经步骤a)预处理后的单晶硅片表面刻蚀出多孔;c)将步骤b)获得的表面刻蚀有多孔的单晶硅片置入CexLu1-x(NO3)3乙酸溶液中,在25~60℃下浸渍8~12小时后,干燥备用;其中,CexLu1-x(NO3)3中的x=0.001~0.040;d)将步骤c)得到的单晶硅片在惰性气氛中、于1000~1200℃下进行热处理2~4小时。本发明可实现以简单操作、低成本、大面积制备厚度可达30~60微米、且薄膜与衬底结合牢固的掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜,具有应用前景。

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