基于矢量面元模型的微波成像方法
- 申请号：CN201410315893.9
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院电子学研究所
- 公开(公开)号：CN104062656A
- 公开(公开)日：2014.09.24
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 基于矢量面元模型的微波成像方法 | ||
| 申请号 | CN201410315893.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN104062656A | 公开（授权）日 | 2014.09.24 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 吕晓德;邢曙光;丁赤飚 |
| 主分类号 | G01S13/89(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/89(2006.01)I |
| 专利有效期 | 基于矢量面元模型的微波成像方法 至基于矢量面元模型的微波成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供了一种基于矢量面元模型的微波成像方法。在该微波成像方法中，假设目标外形是由很多矢量面元组成，将每个矢量面元用六个参量表达-面元的中心位置以及面元外法线矢量，结合散射测量值，基于物理光学等理论建立非线性方程组，再通过某些非线性方程数值解法反演出面元参量进而得到目标外形。本发明可直接获得目标外形，实用性强，测试过程简便、成像思路简洁明了、成像过程简单可行、识别能力强，有良好的应用前景。 | ||
交易流程
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