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一种功率校准测试系统及校准测量方法

  • 申请号:CN201410338806.1
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 公开(公开)号:CN104062620A
  • 公开(公开)日:2014.09.24
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种功率校准测试系统及校准测量方法
申请号 CN201410338806.1 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN104062620A 公开(授权)日 2014.09.24
申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 吴亮;孙朋飞;丁金义;孙晓玮;佟瑞;孙芸;钱蓉;李昭音
主分类号 G01R35/00(2006.01)I IPC主分类号 G01R35/00(2006.01)I
专利有效期 一种功率校准测试系统及校准测量方法 至一种功率校准测试系统及校准测量方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供一种功率校准测试系统,包括设定目标功率与目标频段的系统设置装置、连接于所述系统设置装置与功率传感器测量输出功率的功率计、连接于所述功率计产生微波信号的微波矢量网络分析仪、连接于所述微波矢量网络分析仪的倍频器、连接于所述倍频器的三端口定向耦合器、连接于所述微波矢量网络分析仪及所述三端口定向耦合器的谐波混频器。本发明通过实施闭环反馈回路,实现了对待测件输入端口参考面输入功率的实时闭环的监控和调整,可实现任何频段内的功率实时闭环功率校准和电路、器件的精确测量,大大提高了系统的通用型、有效性、一致性及精确性。

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