专利详情

专利名称	用于测量样品的热电性能的样品座及测量方法
申请号	CN201310087023.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104062318A	公开（授权）日	2014.09.24
申请（专利权）人	国家纳米科学中心	发明（设计）人	王汉夫;官爱强;褚卫国;郭延军;金灏;熊玉峰
主分类号	G01N25/48(2006.01)I	IPC主分类号	G01N25/48(2006.01)I;G01R27/14(2006.01)I
专利有效期	用于测量样品的热电性能的样品座及测量方法至用于测量样品的热电性能的样品座及测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种用于测量样品的热电性能的样品座以及测量方法，其有助于提高热电性能测量的可靠性，该样品座包括基座（2）、绝缘垫片（3）、两个第一压块（4）、两个第二压块（5）、两个第三压块（6）和两个温差加热器（7和7′），其中：基座（2）上铺设绝缘垫片（3），两个第一压块（4）间隔安装在绝缘垫片（3）上，两个第二压块（5）分别位置相对地叠压在所述两个第一压块（4）上，被测样品（8）悬置并且两端分别固定在所述第一压块（4）与第二压块（5）之间，两个第三压块（6）分别位置相对地叠压在两个第二压块（5）上，各个第二压块（5）与第三压块（6）之间分别放置一个温差加热器（7或7′）。