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FLASH器件及其制造方法

  • 申请号:CN201310100318.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN104078466A
  • 公开(公开)日:2014.10.01
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 FLASH器件及其制造方法
申请号 CN201310100318.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN104078466A 公开(授权)日 2014.10.01
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 朱慧珑
主分类号 H01L27/115(2006.01)I IPC主分类号 H01L27/115(2006.01)I;H01L21/8247(2006.01)I
专利有效期 FLASH器件及其制造方法 至FLASH器件及其制造方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 公开了一种FLASH器件及其制造方法,该半导体器件包括:半导体衬底;半导体衬底中的阱区;位于阱区上的夹层结构,该夹层结构包括背栅导体、位于背栅导体两侧的半导体鳍片、以及将背栅导体与半导体鳍片分别隔开的各自的背栅电介质,其中阱区作为背栅导体的导电路径的一部分;与半导体鳍片相交的前栅堆叠,该前栅堆叠包括依次设置的浮栅电介质、浮栅导体、控制栅电介质和控制栅导体,并且浮栅电介质将浮栅导体和半导体鳍片隔开;位于背栅导体上方以及半导体鳍片上方的绝缘帽盖,并且绝缘帽盖将背栅导体与控制栅导体隔开;以及与半导体鳍片提供的沟道区相连的源区和漏区。该半导体器件可以实现高集成度和低功耗。

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