专利详情

专利名称	一种基于环形扫描斜率提取非球面面形测量系统及方法
申请号	CN201410294133.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104075667A	公开（授权）日	2014.10.01
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	吴永前;黄传科;范斌;刘锋伟
主分类号	G01B11/24(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/24(2006.01)I
专利有效期	一种基于环形扫描斜率提取非球面面形测量系统及方法至一种基于环形扫描斜率提取非球面面形测量系统及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种基于环形扫描斜率提取非球面面形测量系统及方法，属于光电技术检测领域，所述测量系统包括激光器、扩束系统透镜组、刻蚀不透明点的平面透镜、成像CCD和一维电控移动台构成；本发明基于环形扫描斜率提取的非球面面形测量，无需补偿器，动态范围大，精度高，其研究成果可用于主镜初抛阶段的检测，解决相关技术瓶颈，具有重要的工程应用价值和现实意义。