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对称式中继光学系统

  • 申请号:CN201420154395.6
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN203858413U
  • 公开(公开)日:2014.10.01
  • 法律状态:
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 对称式中继光学系统
申请号 CN201420154395.6 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN203858413U 公开(授权)日 2014.10.01
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 蔡燕民;王向朝;唐锋
主分类号 G02B27/00(2006.01)I IPC主分类号 G02B27/00(2006.01)I;G02B1/00(2006.01)I
专利有效期 对称式中继光学系统 至对称式中继光学系统 法律状态
说明书摘要 一种对称式中继光学系统,沿其光轴方向从物面一侧依次包括第一透镜至第三透镜、孔径光阑、第四透镜至第六透镜。该对称式中继光学系统采用对称式结构,可以有效地校正垂轴像差,同时采用正负光焦度平衡匹配有效地校正轴向像差,满足瑞利判据的要求;采用尽量少的透镜实现较大的视场,结构紧凑、体积小、重量轻,有利于各种实验的开展,可以用于偏振照明系统的偏振态测量实验,可以用于光瞳滤波实验,还可以用于照明方式优化实验等。

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