专利详情

专利名称	高分辨率和高信噪比的双旋CT成像系统和成像方法
申请号	CN201310116386.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104095646A	公开（授权）日	2014.10.15
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	朱佩平
主分类号	A61B6/03(2006.01)I	IPC主分类号	A61B6/03(2006.01)I
专利有效期	高分辨率和高信噪比的双旋CT成像系统和成像方法至高分辨率和高信噪比的双旋CT成像系统和成像方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种高分辨率和高信噪比的双旋CT成像系统和成像方法，所述的成像系统包括：X射线或中子线光源：用于产生照射样品的光束；样品台：用于承载、固定和旋转样品；线像素探测器阵列：用于探测光强的背景和空间位置的变化，采集所述样品在所述光束照射下的投影数据；旋转装置：用于在垂直于样品转轴的方向，围绕样品同步旋转线光源和线像素探测器阵列。上述成像系统具有成像分辨率高、投影数据信号强的特点，满足医学检测、安全检查、工业检测等方面的应用需求。