专利详情

专利名称	一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法
申请号	CN201410323960.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104101430A	公开（授权）日	2014.10.15
申请（专利权）人	中国科学院光电研究院	发明（设计）人	张雪静;景娟娟;周锦松;李雅灿;付锡禄;冯蕾;曾晓茹
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I
专利有效期	一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法至一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法，通过采用钨灯与氙灯的组合作为光源，调整两种光源的亮度比例可以得到不同光谱特征的光源，弥补了仅由钨灯做光源时短波波段辐亮度低的不足；并在采集过程中，多次调节钨灯与氙灯的亮度比例，这种调节不需要精确的控制，只保证亮度比有所改变即可，因此可在短时间内完成，分别测试成像光谱仪的响应，并用标准光谱辐射度计进行监测，这种数据采集方式可提供多组光谱特征不同的数据，计算绝对辐射定标系数时便可以从中择优使用；最后，在计算绝对辐射定标系数时，从实验数据中选择成像光谱仪响应最高的一组，定标精度得到保证，计算过程全部由计算机完成，保证了计算效率。