
双视场多普勒外差干涉仪
- 申请号:CN201420262791.0
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN203881445U
- 公开(公开)日:2014.10.15
- 法律状态:授权
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 双视场多普勒外差干涉仪 | ||
申请号 | CN201420262791.0 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN203881445U | 公开(授权)日 | 2014.10.15 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 费小云;冯玉涛;白清兰;孙剑;李勇 |
主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I |
专利有效期 | 双视场多普勒外差干涉仪 至双视场多普勒外差干涉仪 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 |
本实用新型提供了一种双视场多普勒外差干涉仪,以实现同时探测两相互垂直方位角目标光谱的Doppler频移信息。该双视场多普勒外差干涉仪,包括面向垂直视场设置的两个平面反射镜,两个平面反射镜上下错开,将光瞳分成上下两半区域,两个平面反射镜的水平投影的两直线夹角为45°;在两个平面反射镜的后方沿光路依次设置有一个 |
交易流程
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专利 -
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