专利详情

专利名称	一种荧光检测银离子含量的方法
申请号	CN201410354030.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104111244A	公开（授权）日	2014.10.22
申请（专利权）人	中国科学院化学研究所	发明（设计）人	唐亚林;史运华;孙红霞;杨千帆
主分类号	G01N21/64(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/64(2006.01)I
专利有效期	一种荧光检测银离子含量的方法至一种荧光检测银离子含量的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明一种荧光检测银离子含量的方法，公开了一种检测银离子浓度的方法。利用银离子调控可形成i-motif结构的特性以及菁染料聚集体识别i-motif结构的特性，将待测液体样品加入到能形成i-motif结构的DNA分子与菁染料混合溶液中，通过测定波长在530-700nm处荧光强度值，即可在银离子浓度标准曲线上找到其对应的银离子浓度值。该方法特异性高，选择性好，试剂成分简单，反应过程简单，可有效减少操作产生的误差，测试精确度高。该方法在普通荧光光谱仪便可快速检测，不需要特殊或额外仪器，检测成本低廉，便于行业内推广应用。