多通道电位测量仪
- 申请号：CN201310152301.1
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院金属研究所
- 公开(公开)号：CN104122307A
- 公开(公开)日：2014.10.29
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 多通道电位测量仪 | ||
| 申请号 | CN201310152301.1 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN104122307A | 公开（授权）日 | 2014.10.29 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 许进;孙成;于长坤;吴堂清;闫茂成;龙康 |
| 主分类号 | G01N27/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/26(2006.01)I |
| 专利有效期 | 多通道电位测量仪 至多通道电位测量仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉金属腐蚀测量设备领域，具体地来说为多通道电位测量仪，主要用于剥离涂层下阴极保护电位二维分布测量。该测量仪通过电极与被测试系统相连，包括处理器、电位采集器以及控制按键，电位采集器与处理器之间通过数据线连接，处理器向电位采集器发出指令并接受电位采集器传递的电位信号；控制按键与处理器的输入端连接，通过控制按键控制电位采集器的工作状态。本发明可以对缝隙内金属进行不同缝隙深度下阴极保护电位的二维分布进行测量及实时监测。具有体积小，结构简单，操作方便，检测精度高的优点。 | ||
交易流程
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专利 -
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