专利详情

专利名称	集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路及方法
申请号	CN201410392231.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104122497A	公开（授权）日	2014.10.29
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	涂吉;王子龙;李立健
主分类号	G01R31/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/28(2006.01)I
专利有效期	集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路及方法至集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路，包括地址计数器发送地址数据序列；序列计数器发送数据序列；种子及多项式系数存储单元与地址计数器连接，发送压缩的难测、易测向量的输出值；序列发生器分别与序列计数器和种子及多项式系数存储单元连接，输出2比特数据；权重产生逻辑单元用于输出4路数据值；四选一数据选择器分别连接权重产生逻辑单元、序列发生器输出一路数据；输入寄存器与四选一数据选择器连接，用于寄存数据并装载更新数据；扫描链分别与输入寄存器以及被测电路组合逻辑单元连接，输出更新变化的数据；被测电路与扫描链连接，用于检测被测电路故障。本发明还提供一种集成电路内建自测试所需测试向量生成方法。