
一种基于二次成像的线性渐变滤光片型多光谱成像仪
- 申请号:CN201410415614.6
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
- 公开(公开)号:CN104155000A
- 公开(公开)日:2014.11.19
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种基于二次成像的线性渐变滤光片型多光谱成像仪 | ||
申请号 | CN201410415614.6 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN104155000A | 公开(授权)日 | 2014.11.19 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电研究院 | 发明(设计)人 | 柳青;方煜;张桂峰;李杨;周锦松;林心龙 |
主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种基于二次成像的线性渐变滤光片型多光谱成像仪 至一种基于二次成像的线性渐变滤光片型多光谱成像仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种基于二次成像的线性渐变滤光片型多光谱成像仪,包括:依次设置的前置成像系统、线性渐变滤光片、Offner中继成像系统及探测器;所述前置成像系统实现对目标成像的功能,所述线性渐变滤光片置于所述前置成像系统的一次像面上,实现对空间目标的光谱分割,所述Offner中继成像系统将光谱分割后的一次像面再次成像于探测器上,所述探测器通过光电效应获取和记录数字信息;其中,所述线性渐变滤光片与所述前置成像系统及Offner中继成像系统之间的距离不小于预定数值。通过采用本发明公开的多光谱成像仪,能够完全消除光谱混叠对光谱分辨率的影响,同时避免鬼像的形成。 |
交易流程
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