专利详情

专利名称	用于集成无源器件的测试板以及测试系统
申请号	CN201420307393.6	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN203950019U	公开（授权）日	2014.11.19
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所;华进半导体封装先导技术研发中心有限公司	发明（设计）人	杜天敏;陆原;刘丰满
主分类号	G01R31/27(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/27(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I
专利有效期	用于集成无源器件的测试板以及测试系统至用于集成无源器件的测试板以及测试系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型公开了一种用于集成无源器件的测试板以及测试系统。一种用于集成无源器件的测试板，包括测试结构和校准结构，其特征在于：所述校准结构与所述测试结构位于同一块PCB板上，并且与所述测试结构的布局相同。依照本实用新型的用于集成无源器件的测试结构，在测试板上设计了IPD芯片的高频测试连接端口和误差校准结构，实现了测试点的连接，又通过校准结构的设计巧妙地消除测试链路中的误差，方便地进行IPD高频测试的校准和测试，提供了一种便捷准确的测量方式，满足IPD芯片研发工作中的测试需求。