轴线相交度测试装置
- 申请号：CN201620829064.7
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN206056524U
- 公开(公开)日：2017.03.29
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 轴线相交度测试装置 | ||
| 申请号 | CN201620829064.7 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN206056524U | 公开（授权）日 | 2017.03.29 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 赵怀学;周艳;田留德;赵建科;薛勋;潘亮;胡丹丹;段亚轩;张洁;曹昆;李坤;赛建刚;昌明 |
| 主分类号 | G01B11/14(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/14(2006.01)I;G01C1/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 轴线相交度测试装置 至轴线相交度测试装置 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本实用新型提供一种轴线相交度测试装置，包括自准直经纬仪，光电自准直仪和反射镜；光电自准仪和自准直经纬仪架设在转台水平轴的两端；反射镜设置在转台水平轴上；反射镜位于在转台垂直轴通过一次正交平移和转台水平轴的相交处；所述反射镜为平面双面反射镜。本实用新型测试装置采用非接触式两轴相交度测试方法，测试精度高，且测量方法不受标准芯棒尺寸的限制。 | ||
交易流程
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选取所需
专利 -
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确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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