一种电子元器件测试恒温系统
- 申请号：CN201621133274.9
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号：CN206161182U
- 公开(公开)日：2017.05.10
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 一种电子元器件测试恒温系统 | ||
| 申请号 | CN201621133274.9 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN206161182U | 公开（授权）日 | 2017.05.10 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 王春林;高见头;赵发展;刘征;罗家俊 |
| 主分类号 | G01K7/22(2006.01)I | IPC主分类号 | G01K7/22(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种电子元器件测试恒温系统 至一种电子元器件测试恒温系统 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本实用新型涉及电子元器件技术领域，特别涉及一种电子元器件测试恒温系统。包括：制冷片、导热平台、加热片、温度传感器、夹具、电源及控制单元；导热平台的一侧设置有制冷片，另一侧设置有加热片；温度传感器设置在导热平台上，并与控制单元连接；夹具设置在导热平台上，夹具用于固定电子元器件；电源与制冷片及加热片连接；控制单元与制冷片及加热片连接，控制制冷片及加热片工作。本实用新型提供的电子元器件测试恒温系统，提高了电子元器件的高低温测试效率，提高了电子元器件测试精度，减少了测试误差。 | ||
交易流程
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选取所需
专利 -
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确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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