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金属氧化物半导体图像传感器

  • 申请号:CN201110457475.X
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海高等研究院
  • 公开(公开)号:CN102523393B
  • 公开(公开)日:2014.02.26
  • 法律状态:专利权的转移
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 金属氧化物半导体图像传感器
申请号 CN201110457475.X 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102523393B 公开(授权)日 2014.02.26
申请(专利权)人 中国科学院上海高等研究院 发明(设计)人 孙涛;汪辉;陈杰;方娜;田犁
主分类号 H04N5/374(2011.01)I IPC主分类号 H04N5/374; H04N5/3745; H04N5/378
专利有效期 金属氧化物半导体图像传感器 至金属氧化物半导体图像传感器 法律状态 专利权的转移
说明书摘要 本发明涉及图像传感器领域,公开了一种金属氧化物半导体图像传感器。本发明中,通过金属氧化物半导体图像传感器结构实现了双模读取的功能,可以有效地扩展图像传感器的动态范围,并且电路结构和逻辑控制都比较简单。通过相关双采样,能够有效地降低噪声,大大提高读出信号的S/N比。在环境光线比较强的情况下,使用PPS模式进行读取,不经放大将电荷直接读取出来,可以防止因光线太强而导致C-APS饱和的情形;在环境光线比较弱的情况下,使用C-APS模式进行读取,通过不同的偏置实现可变增益读取,从而大大扩展了金属氧化物半导体图像传感器的动态范围。

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