
一种低温下超导磁体动态测量装置
- 申请号:CN201621204158.1
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院近代物理研究所
- 公开(公开)号:CN206223951U
- 公开(公开)日:2017.06.06
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 一种低温下超导磁体动态测量装置 | ||
申请号 | CN201621204158.1 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN206223951U | 公开(授权)日 | 2017.06.06 |
申请(专利权)人 | 中国科学院近代物理研究所 | 发明(设计)人 | 吴北民;马力祯;杨文杰;吴巍;倪东升 |
主分类号 | G01R33/07(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/07(2006.01)I |
专利有效期 | 一种低温下超导磁体动态测量装置 至一种低温下超导磁体动态测量装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型涉及超导磁体测试设备技术领域,尤其是涉及一种低温下超导磁体动态测量装置。其特点是包括测量工作台和测磁工装机构,所述的测量工作台包括底盘,底盘上设置有X方向位置调整机构、Y方向位置调整机构和Z方向位置调整机构,Z方向位置调整机构上还设置有旋转驱动电机,旋转驱动电机通过联轴器与测磁杆上端相连,测磁杆穿过底盘的中间孔下端安装在测磁工装机构上,所述的测磁工装机构包括上定位盘和下定位盘,上定位盘上端对应设置有限位块,下定位盘下端对应设置有锁紧环,上定位盘和下定位盘之间设置有旋转筒。其具有自动化程度高,控制方便,适用范围广,测试可靠的优点;控制部分实现简单,其控制部分均为成熟技术。 |
交易流程
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