专利详情

专利名称	一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器
申请号	CN201621261568.X	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN206258590U	公开（授权）日	2017.06.16
申请（专利权）人	中国科学院近代物理研究所	发明（设计）人	朱光宇;武军霞;张雍;魏源;景龙;杜泽
主分类号	G01T1/29(2006.01)I	IPC主分类号	G01T1/29(2006.01)I
专利有效期	一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器至一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器	法律状态
说明书摘要	本实用新型涉及加速器束流诊断、束流测量、纵向束团形状测量技术领域，尤其是涉及一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器。包括探测器主体和设置在其上的微波带状线结构，所述的探测器主体包括法兰，钽铜复合板通过支撑架与法兰相连，法兰和钽铜复合板之间还设置有水冷管，所述的微波带状线结构设置在钽铜复合板内侧，微波带状线结构固定在微波带状线底板上，微波带状线结构上下分别设置有转接器，所述的微波带状线结构包括介质基板，介质基板上下分别设置有上层地和下层地，介质基板上设置有定位孔、第一金属化过孔和第二金属化过孔，带状线导带和微带线导带设置在介质基板上。其结构紧凑，易于加工，易于操作控制，时间分辨率高，抗干扰性强。