专利详情

专利名称	基于阶跃滤光片的超光谱成像仪
申请号	CN201621281619.5	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN206281570U	公开（授权）日	2017.06.27
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	陈小文;李春来;王建宇
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I
专利有效期	基于阶跃滤光片的超光谱成像仪至基于阶跃滤光片的超光谱成像仪	法律状态
说明书摘要	本专利公开了一种基于阶跃滤光片的超光谱成像仪，分光系统使用阶跃滤光片实现光谱分离，整个光学系统采样二次成像的方式实现阶跃滤光片和焦平面探测器的分离，采用压电陶瓷偏转机构，精确进行像移补偿，探测器对地物目标1/m(m为单个光谱对应的探测器采样行数)冗余过采用，防止由于滤光片过渡行不透光引起地物目标漏扫。整个系统结构简单，重量轻，能提高系统等效读出帧频m?1倍，并且能够依据系统应用需要自由选取光谱波段，这种超光谱成像系统对读出帧频要求很高以及对光谱波段要求不连续的场合有特别突出的优势。