
弱光条件下红外光电探测器响应特性参数标定装置
- 申请号:CN201621480580.X
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN206362452U
- 公开(公开)日:2017.07.28
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 弱光条件下红外光电探测器响应特性参数标定装置 | ||
申请号 | CN201621480580.X | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN206362452U | 公开(授权)日 | 2017.07.28 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 郭毅;刘峰;赵建科;徐亮;刘锴;李朝辉;高明星;李晓辉 |
主分类号 | G01J5/52(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/52(2006.01)I |
专利有效期 | 弱光条件下红外光电探测器响应特性参数标定装置 至弱光条件下红外光电探测器响应特性参数标定装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型属于红外光电探测领域,涉及一种弱光条件下红外光电探测器响应特性参数标定装置,包括标定光源、光学斩波器、平行光管和锁相放大器;所述光学斩波器位于标定光源和平行光管的入口之间;所述锁相放大器分别与光学斩波器和待测红外光电探测器相连;待测红外光电探测器的靶面位于所述平行光管的出口处。本实用新型利用光学斩波器调制黑体出射光信号并且利用锁相放大器提取被调制的黑体出射光信号,从而有效避免了环境辐射信号对光源信号的干扰。 |
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