
一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置
- 申请号:CN201621119762.4
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号:CN206411264U
- 公开(公开)日:2017.08.15
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置 | ||
申请号 | CN201621119762.4 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN206411264U | 公开(授权)日 | 2017.08.15 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明(设计)人 | 况耀武;舒嵘;何志平;黄庚华;王海伟 |
主分类号 | G01S7/497(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/497(2006.01)I |
专利有效期 | 一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置 至一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本专利公开了一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置,装置包括激光发射系统、光轴分离组件、共用望远镜、光轴监视相机、被动成像系统和激光接收系统。本实用新型利用了在入射平面内棱镜入射出射光夹角仅与棱镜反射面夹角有关的特性,通过在高精度多光轴主被动复合探测系统中引入光轴分离组件和光轴监测相机等手段建立起激光发射光轴和被动成像系统光轴之间的相对关系,便于在高精度主被动探测系统工作过程中实时对各光轴变化情况进行监测,所获得的光轴变化数据也可在后续数据处理中对探测数据进行修正。本专利具有光轴监测灵敏度高、自身光轴稳定性好、加工装调工艺成熟等优点,可广泛应用于机载和星载高精度主被动复合探测光电系统中。 |
交易流程
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