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一种断层成像系统及其断层扫描控制电路

  • 申请号:CN201621311826.0
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院深圳先进技术研究院
  • 公开(公开)号:CN206482586U
  • 公开(公开)日:2017.09.12
  • 法律状态:
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专利详情

专利名称 一种断层成像系统及其断层扫描控制电路
申请号 CN201621311826.0 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN206482586U 公开(授权)日 2017.09.12
申请(专利权)人 中国科学院深圳先进技术研究院 发明(设计)人 石伟;梁栋;洪序达;张军
主分类号 A61B6/03(2006.01)I IPC主分类号 A61B6/03(2006.01)I
专利有效期 一种断层成像系统及其断层扫描控制电路 至一种断层成像系统及其断层扫描控制电路 法律状态
说明书摘要 本实用新型属于X射线成像技术领域,提供了一种断层成像系统及其断层扫描控制电路。本实用新型通过在断层成像系统中采用包括驱动模块、多个高压控制模块、冷阴极场致X射线源阵列及高压直流电源的断层扫描控制电路,由断层成像系统的探测器发送曝光时序信号至驱动模块;由驱动模块根据曝光时序信号输出多路单脉冲信号;由多个高压控制模块分别根据多路单脉冲信号对冷阴极场致X射线源阵列的发射时序进行控制,以使多个冷阴极场致X射线源依次向目标对象发射X射线,由于采用电子式全静态扫描方式,因此节约了高精度旋转机架的成本,且成像过程中不会存在运动伪影,同时,由于采用脉冲曝光方式,从而避免了扫描过程中无效辐射剂量的产生。

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