专利详情

专利名称	一种成像光谱仪CCD光谱图像暗电流校正方法
申请号	CN201610349684.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN105841815A	公开（授权）日	2016.08.10
申请（专利权）人	中国科学院合肥物质科学研究院	发明（设计）人	张泉;司福祺
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I
专利有效期	一种成像光谱仪CCD光谱图像暗电流校正方法至一种成像光谱仪CCD光谱图像暗电流校正方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种成像光谱仪CCD光谱图像暗电流校正方法，首先将CCD光谱维暗像元响应平均值作为对应空间维平均暗电流，形成整个像面的平均暗电流。然后，根据不同亮度下光谱图像计算出暗像元响应非均匀性校正矩阵。将像面平均暗电流与暗像元校正矩阵相加得到像面实际暗电流。最后通过扣除实际暗电流实现CCD光谱图像暗电流校正。本发明实现了基于CCD暗像元的光谱图像暗电流校正，消除了暗信号响应非均匀性噪声，方法可靠且简单易行，有利于提高成像光谱仪成像质量。