
离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样
- 申请号:CN201721072051.0
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院金属研究所;国家电投集团科学技术研究院有限公司
- 公开(公开)号:CN207074128U
- 公开(公开)日:2018.03.06
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样 | ||
申请号 | CN201721072051.0 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN207074128U | 公开(授权)日 | 2018.03.06 |
申请(专利权)人 | 中国科学院金属研究所;国家电投集团科学技术研究院有限公司 | 发明(设计)人 | 邓平;彭群家;孙晨;韩恩厚;柯伟 |
主分类号 | G01N1/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N1/28(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I;G01N3/08(2006.01)I |
专利有效期 | 离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样 至离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型属于应力腐蚀拉伸试样制备领域,具体为一种适用于离子辐照模拟中子辐照的应力腐蚀拉伸试样,用于研究辐照后材料的应力腐蚀敏感性,以评价材料在核电站高温高压水环境下的服役性能。该拉伸试样包括矩形横截面的平行部分标距段、切向过渡圆弧部分和螺纹连接夹持部分,其制备方法包括以下步骤:(a)制备试样单元体;(b)砂纸研磨;(c)手动抛光;(d)超声清洗;(e)预观察;(f)EBSD检测。本实用新型所提供的应力腐蚀拉伸试样能够均匀接受离子辐照,并有效突出辐照的影响,其制备方法简单,可实施性强,成本低廉,且所用制备方法能有效避免造成试样表面化学成分变化。 |
交易流程
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专利 -
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