
金属石墨烯双面接触结构的制备方法及石墨烯晶体管
- 申请号:CN201610306028.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN105914158A
- 公开(公开)日:2016.08.31
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 金属石墨烯双面接触结构的制备方法及石墨烯晶体管 | ||
申请号 | CN201610306028.7 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN105914158A | 公开(授权)日 | 2016.08.31 |
申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 金智;毛达诚;王少青;彭松昂;史敬元;张大勇 |
主分类号 | H01L21/60(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L21/60(2006.01)I |
专利有效期 | 金属石墨烯双面接触结构的制备方法及石墨烯晶体管 至金属石墨烯双面接触结构的制备方法及石墨烯晶体管 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种金属石墨烯双面接触结构的制备方法及石墨烯晶体管,该制备方法包括:在衬底上光刻定义出需要金属接触的区域,在光刻胶的保护下,利用干法选择性刻蚀出用于沉积下层金属的凹槽;电子束蒸发下层金属,利用剥离工艺得到下层金属图案;转移石墨烯到透明衬底上,旋涂光刻胶,采用从背面曝光的方式,利用已有的下层金属作为光刻掩模,实现上层金属的自对准图形;沉积金属,自对准地形成金属与石墨烯双面接触结构。本发明的方法可以有效保证上下层金属的对准结构,减小石墨烯和金属之间的接触电阻,从而提高石墨烯电子器件的性能。 |
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